主要用于材料结构相关的多方面分析：多晶材料（金属、陶瓷、矿物及人工制备结晶材料）、多晶薄膜、单晶薄膜及各种无机、有机复合材料及非晶态物质。并能够精确测定物质的晶体微观结构，织构及应力，精确的进行物相检索与分析，定性、定量分析、应用谢乐方程分析晶粒大小和晶体生长层数(n值)等。